Message
Изображение №
© 2020-2024 МСЦ РАН
Фриш С. Э. Техника спектроскопии. – 1936. – 188 с., рис., табл.
ОГЛАВЛЕНИЕ
ЧАСТЬ I. СПЕКТРАЛЬНЫЕ ПРИБОРЫ
Глава 1. Призменный спектрограф
§ 1. Устройство простейшего призменного спектрографа
§ 2. Угол наименьшего отклонения призмы
§ 3. Дисперсия призмы
§ 4. Линейная дисперсия спектрографа
§ 5. Разрешающая сила призмы
§ 6. Яркость спектра, даваемого спектрографом
§ 7. Условия освещения щели спектрографа с помощью проектирующей линзы
§ 8. Потери света в спектрографе из-за отражений и поглощения
§ 9. Различные типы призм. Материал для призм
§ 10. Типы призменных спектрографов
Глава II. Диффракционная решетка
§ 11. Общая теория приборов высокой разрешающей силы
§ 12. Дифракционная решетка
§ 13. Дисперсия и разрешающая сила решетки
§ 14. Случай косого падения света на решетку
§ 15. Отражательные решетки
§ 16. Способы установки решеток
§ 17. Вогнутая решетка
§ 18. Астигматизм вогнутой решетки
§ 19. Типы установок вогнутой дифракционной решетки
§ 20. Методы работы с решеткой. Недостатки решеток
§ 21. Употребление решеток для работы в крайних ультрафиолетовой и инфракрасной частях спектра
Глава III. Приборы высокой разрешающей силы
§ 22. Введение
§ 23. Интерферометр Майкельсона
§ 24. Теория эшелона Майкельсона
§ 25. Распределение интенсивности по порядкам
§ 26. Типы установок эшелона
§ 27. Пластинка Люмера
§ 28. Способы установки пластинки Люмера
§ 29. Эталон Фабри и Перо
§ 30. Разрешающая сила эталона
§ 31. Методы работы с эталонами и интерферометрами Фабри и Перо
§ 32. Употребление скрещенных и сложных приборов
§ 33. Практическая разрешающая сила приборов
ЧАСТЬ II. МЕТОДЫ РЕГИСТРАЦИИ И ИЗМЕРЕНИЯ СПЕКТРОВ
Глава I. Регистрация спектров
§ 34. Фотографирование спектров. Свойства фотопластинки
§ 35. Проявление и сенсибилизирование пластинок. Шумановские пластинки
§ 36. Термические способы регистрации спектров
§ 37. Электрические методы регистрации спектров
Глава II. Измерение длин волн
§ 38. Введение
§ 39. Сравнение длины волны красной кадмиевой линии с длиной нормального метра
§ 40. Измерения Фабри, Перо и Бенуа; метод совпадения колец
§ 41. Сравнение длин волн нормалей второго порядка с длиной волны красной кадмиевой линии
§ 42. Нормали для крайней ультрафиолетовой и инфракрасной частей спектра
§ 43. Измерение длин волн путем интерполирования
Глава III. Определение интенсивностей и контуров спектральных линий
§ 44. Общие методы определения интенсивностей
§ 45. Тепловые и фотоэлектрические методы измерения интенсивностей
§ 46. Фотографическая фотометрия. Микрофотометры
§ 47. Сравнение интенсивностей линий с помощью клина и вращающегося диска
§ 48. Методы нанесения марок интенсивностей
§ 49. Определение отношения интенсивностей по кривым почернения
§ 50. Определение интенсивностей линий, лежащих в различных спектральных областях
§ 51. Абсолютные измерения
§ 52. Контуры спектральных линий
Глава IV. Источники света
§ 53. Введение. Термические источники света
§ 54. Вольтовы дуги и искры
§ 55. Газосветные лампы