Message
Изображение №
© 2020-2024 МСЦ РАН
Пинес Борис Яковлевич Лекции по структурному анализу. – 1937. – 252 с.: ил.
Предисловие
Часть I. КРИСТАЛЛОГРАФИЯ
Глава I. Основные понятия геометрической кристаллографии
§ 1. Понятие о симметрии. Элементы симметрии
§ 2. Возможные порядки осей симметрии
§ 3. Системы координатных осей
§ 4. Аналитическое описание геометрических элементов кристалла
§ 5. Стереографическая проекция кристалла
§ 6. Гномоническая проекция
Глава II. Пространственные решетки
§ 1. Элементарная ячейка и примитивная ячейка
§ 2. Линейные и угловые соотношения в пространственной решетке
§ 3. Способы экспериментального определения межплоскостных расстояний и периодов идентичности
§ 4. Прямая и обратная решетка
§ 5. Преобразование индексов при изменении системы координат
Глава III. Классификация кристаллов
§ 1. Описание 32-х классов симметрии
§ 2. Физические свойства кристаллов различных классов симметрии
§ 3. Решетки Бравэ
§ 4. Элементы симметрии дисконтинуума
§ 5. Пространственные группы и их свойства
§ 6. Символы Могена для обозначения элементов симметрии, классов и пространственных групп
Глава IV. Реальные кристаллы
§ 1. Характер сил сцепления. Структуры неорганических соединений
§ 2. Металлы и интерметаллические соединения
§ 3. Структуры других элементов. Органические кристаллы
§ 4. Строение кристаллов и их свойства
Часть II. МЕТОДЫ СТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА
Глава I. Общая теория рассеяния рентгеновских лучей кристаллами
§ 1. Элементарная теория рассеяния рентгеновских лучей примитивной решеткой
§ 2. Структурный множитель
§ 3. Множители Лоренца
§ 4. Тепловой множитель
§ 5. Атомный множитель
§ 6. Изменение интенсивности вследствие поглощения в образце
§ 7. Динамическая теория рассеяния и мозаичная структура криссталлов
Глава II. Метод Дебая и его приложения
§ 1. Описание метода
§ 2. Индицирование рентгенограмм
§ 3. Поправки при определении углов отражения
§ 4. Рентгенограммы от шлифов
§ 5. Способы точного определения параметра. Камеры Закса, Дейлингера, Болина и Престона
§ 6. Способы точного определения параметра
§ 7. Определение внутренних напряжений
§ 8. Твердые растворы
§ 9. Влияние величины кристаллов на линии дебаеграммы. Формулы Шеррера и Лауэ
§ 10. Измерения интенсивности при пользовании методом Дебая
§ 11. Определение текстур
Глава III. Способы полного определения структуры кристалла
§ 1. Монохроматические рентгенограммы вращения
§ 2. Рентгенограммы Лауэ
§ 3. Рентгенгониометры Вейссенберга и Заутера—Шибольда
§ 4. Общий ход полного определения структуры кристалла
§ 5. Разбор определения структуры интерметаллического соединения Аu_2 Ві
§ 6. Разбор определения структуры гидраргилита — Аl(ОН)_3
§ 7. Разбор определения структуры халкопирита CuFeS_2
§ 8. Гармонический анализ структуры кристаллов
Литература
ОГЛАВЛЕНИЕ