Message
Изображение №
© 2020-2025 МСЦ РАН
Жданов Г. С. Основы рентгеновского структурного анализа. – 1940. – 446с.: ил.
Предисловие
ОГЛАВЛЕНИЕ
Перечень важнейших обозначений
Введение
ЧАСТЬ I. КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ СТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА
Отдел I. Основные понятия и формулы геометрической кристаллографии. Способы изображения кристаллов
Глава I. Эмпирические законы кристаллографии
§ 1. Мозаичная структура реальных кристаллов и идеальный кристалл
§ 2. Анизотропия и однородность кристаллов
§ 3. Закон плоскогранности граней и прямолинейности ребер кристалла
§ 4. Закон постоянства углов в кристаллах (закон Стенона и Ромэ-де-л'Иля)
§ 5. Закон рациональных индексов
§ 6. Определение понятия симметрии. Простейшие элементы симметрии
§ 7. Закон симметрии кристаллов
§ 8. Кристаллографические системы, или сингонии
Глава II. Кристалл, как пространственная решетка
§ 9. Определение пространственной решетки. Линейная форма
§ 10. Вывод эмпирических законов кристаллографии на основании теории пространственных решеток
§ 11. Кристаллографические символы
§ 12. Примитивные и сложные решетки
§ 13. Решетки Бравэ
Глава III. Важнейшие формулы структурной кристаллографии
§ 14. Период идентичности
§ 15. Угол между двумя прямыми
§ 16. Объем элементарной ячейки
§ 17. Кристаллографическая зона
§ 18. Обратная решетка
§ 19. Квадратичная форма примитивной пространственной решетки
§ 20. Преобразование кристаллографических символов при перемене осей координат
Глава IV. Кристаллографические проекции
§ 21. Линейная проекция
§ 22. Сферическая проекция
§ 23. Стереографическая проекция
Глава V. Геометрия простейших кристаллических структур
§ 24. Общая характеристика сил связей между частицами в кристаллах
§ 25. Решетки как компактные упаковки. Решетки металлов
§ 26. Геометрические закономерности ионных решеток. Координационные решетки
Отдел II. Учение о симметрии кристаллов
Глава VI. Кристаллический класс и пространственная группа
§ 27. Элементы симметрии анизотропной сплошной среды (континуума) и однородного дисконтинуума
§ 28.Симметрия континуума и дисконтинуума. Класс симметрии и пространственная группа
§ 29. Соотношение между пространственной группой и классом симметрии кристалла
§ 30. Геометрические способы изображения симметрии кристаллических классов. Кристаллическая форма
§ 31. Изображение групп симметрии в аналитической форме. Кратность группы
Глава VII. Симметрия анизотропного континуума
§ 32. Ограниченность числа классов и групп симметрии кристаллов
§ 33. Аксиальные классы симметрии
§ 34. Классы симметрии с плоскостями
§ 35. Распределение кристаллических классов по сингониям
§ 36. Обозначения классов симметрии, принятые международной комиссией (Германна-Могена)
§ 37. Голоэдрия и гемиэдрия
Глава VIII. Симметрия однородного дисконтинуума
§ 38. Элементы симметрии дисконтинуума
§ 39. Пространственные группы кристаллических классов С2 и С3
§ 40. Некоторые важные характеристики пространственных групп
ЧАСТЬ II. ТЕОРИЯ ИНТЕРФЕРЕНЦИИ РЕНТГЕНОВСКИХ ЛУЧЕЙ, РАССЕИВАЕМЫХ МАТЕРИАЛЬНЫМИ ТЕЛАМИ
Отдел I. Геометрия интерференции рентгеновских лучей в кристаллах
Глава IX. Интерференция рентгеновских лучей в примитивной пространственной решетке
§ 41. Интерференция в одномерной решетке
§ 42. Интерференция в двухмерной решетке
§ 43. Лауэвская теория интерференции рентгеновских лучей в кристаллах
§ 44. Брэгговская теория отражения рентгеновских лучей в кристаллах
§ 45. Интерференционное уравнение трехмерной решетки
Глава X. Интерференция рентгеновских лучей в сложной пространственной решетке
§ 46. Структурный фактор
§ 47. Теорема Фриделя. Лауэвские классы симметрии
ЧАСТЬ III. МЕТОДЫ РЕНТГЕНОВСКОГО СТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА
Отдел I. Деление методов рентгеноанализа и принципы конструкции рентгеновских камер
Глава XI. Деление методов рентгеноанализа и принципы конструкции рентгеновских камер
§ 48. Общее деление методов структурного анализа
§ 49. Способы получения рентгенограмм и принципы устройства рентгеновских камер
Отдел II. Методы исследования монокристаллов
Глава XII. Метод вращения кристалла
§ 50. Определение. Геометрия интерференционной картины. Слоевые линии
§ 51. Разновидности, цели и практическое осуществление метода вращения
§ 52. Задачи, разрешаемые методом вращения без индицирования пятен рентгенограммы
§ 53. Направление интерференционного луча
§ 54. Интерференционные кривые
§ 55. Определение индексов интерференции
§ 56. Определение ориентировки монокристалла методом вращения
Глава XIII. Метод рентгеновского гониометра
§ 57. Общие замечания
§ 58. Метод Вейссенберга
§ 59. Метод Шибольда-Саутера
Глава XIV. Метод Лауэ
§ 60. Определения. Геометрия интерференционной картины
§ 61. Расположение интерференционных пятен на рентгенограмме
§ 62. Определение лауэвского класса симметрии
§ 63. Аппаратура и излучение, а также применения метода Лауэ
§ 64. Расчет лауэграммы кристалла, снятого по кристаллографической оси
§ 65. Поле индексов по Гроссу
§ 66. Лауэграммы плохо ориентированных кристаллов
§ 67. Задняя съемка в методе Лауэ
Отдел III. Метод исследования поликристаллов
Глава XV. Метод Дебая-Шеррера-Хэлла
§ 68. Геометрия интерференции в поликристалле
§ 69. Типы съемок в методе Дебая
§ 70. Съемка по способу Болин-Зеемана
§ 71. Определение брэгговских углов
§ 72. Индуцирование дебайграмм
Глава XVI. Задачи, разрешаемые по методу Дебая
§ 73. Прецизионное определение периодов кристалла
§ 74. Определение кристаллических ориентировок
§ 75. Определение числа кристаллов размером от 10 до 100 мкм
ЧАСТЬ IV. ТЕОРИЯ ИНТЕРФЕРЕНЦИИ РЕНТГЕНОВСКИХ ЛУЧЕЙ В КРИСТАЛЛАХ
Отдел I. Формулы интенсивности для мозаичного и идеального кристаллов
Глава XVII. Интегральное отражение
§ 76. Интегральное отражение
Глава ХVIII. Упрощенный подсчет интегрального отражения мозаичного кристалла
§ 77. Вывод формулы интегрального отражения для мозаичного кристалла методом „лауэвского суммирования". Фактор Лоренца
§ 78. Вывод формулы интегрального отражения мозаичного кристалла методом „брэгговского суммирования"
Глава XIX. Строгий подсчет интегрального отражения для прозрачных идеальных, идеально-мозаичных и неидеальных кристаллов
§ 79. Формула интегрального отражения для идеального кристаллического полупространства
§ 80. Интенсивность идеального кристалла конечных размеров. Первичная экстинкция
§ 81. Формула интенсивности неидеального и идеально-мозаичного кристаллов. Вторичная экстинкция
§ 82. Экспериментальная проверка динамической теории и сравнение формул интенсивности с опытом
Отдел II. Факторы интенсивности
Глава XX. Атомный фактор
§ 83. Атомный фактор
§ 84. Атомный фактор в области аномальной дисперсии
Глава XXI. Температурный фактор
§ 85. Представление температурного фактора по Зенеру
§ 86. Экспериментальная проверка температурного фактора
Отдел III. Практические формулы интенсивности для различных методов структурного анализа. Факторы абсорбции, повторяемости и пр.
Глава ХХII. Практические формулы интенсивности для различных методов структурного анализа. Факторы абсорбции, повторяемости и пр.
§ 87. Общие сведения об абсорбционном факторе
§ 88. Формулы интенсивности для метода спектрометра Брэгга
§ 89. Формулы интегрального отражения для кристаллического порошка (метод Дебая-Шеррера)
§ 90. Формула интегрального отражения для метода вращения
§ 91. Оптимальные толщины образцов при рентгеносъемке „на-просвет"
ЧАСТЬ V. ПРИМЕНЕНИЯ РЕНТГЕНОВСКОГО СТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА
Отдел I. Исследование монокристаллов
Глава XXIII. Определение атомной структуры кристаллов
§ 92. Полное определение структуры монокристалла
§ 93. Определение структуры SrН2 методом вращения и гониометра
§ 94. Определение структуры кубического кристалла по дебайграмме (NaTl по работе Цинтля и Дулленкопфа)
Глава XXIV. Ряды Фурье в структурном анализе
§ 95. Представление кристалла F-рядом
§ 96. Применение F-рядов в структурном анализе (функциональный анализ)
§ 97. Представление кристалла F2-рядом
§ 98. Применение F2-ряда в структурном анализе
Отдел II. Исследование поликристаллов
Глава XXV. Применения метода порошков (примеры)
§ 99. Прецизионное определение периодов решетки для непрерывного ряда твердых растворов серебро — золото
§ 100. Построение полюсной фигуры прокатанного алюминия
§ 101. Количественное исследование процесса рекристаллизации меди
ДОБАВЛЕНИЯ
I. Теоремы о симметрических преобразованиях
II. Законы образования сложной симметрии
III. Таблица 32 классов симметрии
IV. Перечень 230 пространственных групп и их распределение по сингониям
V. Рассеяние рентгеновских лучей
VI. Тепловые колебания решетки и температурный фактор
Указатель терминов