Публикация ННР Рентгенография металлов. Ч. 1. Изд. 2-е

Жданов Г. С. Рентгенография металлов. – 1941. – 392с.: ил., табл.

Предисловие к первому изданию
Предисловие ко второму изданию
Введение
Глава I. Элементы структурной кристаллографии
- 1. Характерные признаки кристаллов
- 2. Закономерности внутреннего строения кристаллов
- 3. Плоскости и прямые в кристаллах. Символы
- 4. Кристаллографические формулы
- 5. Способы изображения кристаллов (кристаллографические проекции)
- 6. Симметрия кристаллов
- 7. Сложные решетки. Решетки Бравэ
- 8. Пространственные решетки простейших кристаллов
Глава II. Физика лучей Рентгена
- 1. Природа рентгеновых лучей
- 2. Отражение и преломление рентгеновых лучей
- 3. Интерференция рентгеновых лучей, рассеянных кристаллической решеткой. Уравнение Лауэ и формула Брэгга
- 4. Спектр рентгеновых лучей
- 5. Излучение со сплошным спектром
- 6. Характеристические лучи Рентгена
- 7. Вторичное испускание электронов
- 8. Явления, сопровождающие прохождение рентгеновых лучей через вещество
Глава III. Рентгенотехника
- 1. Рентгеновские трубки
- 2. Рентгеновские аппараты высокого напряжения
- 3. Фотографическое действие рентгеновых лучей
- 4. Измерение интенсивности рентгеновых лучей
Глава IV. Структурный анализ. Общая часть
- 1. Основные методы структурного анализа
- 2. Интенсивность интерференционных максимумов
- 3. Структурный фактор
- 4. Атомный фактор
- 5. Температурный фактор
- 6. Интегральная отражательная способность
- 7. Фактор Лоренца
- 8. Фактор повторяемости
- 9. Абсорбционный фактор
Глава V. Структурный анализ. Методы исследования монокристаллов
- 1. Метод Лауэ
- 2. Общая характеристика монохроматических методов рентгеноанализа
- 3. Метод вращающегося кристалла
Глава VI. Структурный анализ. Методы исследования поликристаллических веществ
- 1. Метод Дебая-Шеррера
- 2. Прецизионные измерения постоянных кристаллической решетки
Приложение 1. Задачи на стереографическую проекцию
Приложение 2. Оси симметрии
Приложение 3. Интерференция и дифракция
Приложение 4. Вывод закона рассеяния рентгеновых лучей
Приложение 5. Трубка Хэгга
Приложение 6. Ионизационные методы измерения интенсивности рентгеновых лучей
Приложение 7. Вычисление структурного фактора для гексагональной компактной решетки
Приложение 8. О вычислении атомного фактора
Приложение 9. Вычисление температурного фактора для простейших решеток
Приложение 10. Сводка общих формул для вычисления интенсивности интерференции и примеры их применения
Приложение 11. Понятие о динамической теории интерференции
Приложение 12. Определение симметрии кристаллов по лауэграмме
Приложение 13. Рентгеновский гониометр Вейссенберга
Приложение 14. Съемка дебаеграмм с применением первичного пучка лучей, не ограниченного узкой диафрагмой
Приложение 15. Расшифровка дебаеграммы e-фазы системы медь-олово, снятой на Fe-излучении
Приложение 16. Прецизионные методы определения периодов кристаллической решетки
Приложение 17. Таблицы
Библиография
ОГЛАВЛЕНИЕ