Message
Изображение №
© 2020-2024 МСЦ РАН
Китайгородский Александр Исаакович Рентгеноструктурный анализ. – 1950. – 650
Предисловие
Глава I. Кристаллографические основы структурного анализа
А. Элементы теории пространственной решётки
§ 1. Описание пространственной решётки
§ 2. Линейное преобразование пространства
§ 3. Симметрические преобразования
§ 4. Точечные группы или острова
§ 5. Кристаллические системы
§ 6. Трансляционные группы
§ 7. Некоторые замечания об описании кристаллов гексагональной и ромбоэдрической систем
§ 8. Открытые симметрические операции
§ 9. Преобразования, производимые элементами симметрии решётки
§ 10. Пространственные группы
Б. Элементы геометрической кристаллографии
§ 1. Опытные законы кристаллографии
§ 2. Внешний облик кристаллов и простые формы
§ 3. Кристаллографические проекции
§ 4. Сетка Вульфа
§ 5. Гониометрическое изучение кристаллов
§ 6. Обработка результатов гониометрических измерений
§ 7. Работы Федорова. Кристаллохимический анализ
Глава II. Получение рентгеновских лучей и их взаимодействие с веществом
§ 1. Рентгеновская трубка
§ 2. Спектр рентгеновских лучей
§ 3. Общая картина взаимодействия рентгеновских лучей и вещества
§ 4. Коэффициент ослабления (поглощения)
§ 5. Фотографическое действие рентгеновских лучей и измерение интенсивности по почернению плёнки
§ 6. Ионизирующее действие рентгеновских лучей и ионизационный метод измерения интенсивностей
Глава III. Диффракция рентгеновских лучей в кристалле
§ 1. Направление рентгеновских лучей, диффрагированных кристаллом
§ 2 Рассеяние рентгеновских лучей электроном
§ 3. Атомный фактор
§ 4. Структурный фактор
§ 5. Рассеяние рентгеновских лучей малым кристаллом (абсорбция и экстинкция отсутствуют)
§ 6. Рабочие формулы интенсивностей
§ 7. Учет поглощения
§ 8. Учет экстинкции (вторичной)
§ 9. Идеальный кристалл. Первичная экстинкция
§ 10. Влияние тепловых колебаний
§ 11. Температурный фактор
§ 12. Тепловые диффузные максимумы
Глава IV. Метода получения и расчета рентгенограмм монокристалла
§ 1. Введение
§ 2. Метод Лауэ
§ 3. Методы вращения и качания кристалла
§ 4. Практические замечания
§ 5. Методы уточненного определения периодов идентичности по рентгенограммам качания и вращения
§ 6. Рентгенгониомегры с цилиндрической пленкой
§ 7. Рентгенгониометры с плоской пленкой
§ 8 Рентгенспектрограф
Глава V. Структурный анализ без оценки интенсивностей
А. Теория плотной упаковки
§ 1. Введение
§ 2. Топологическая характеристика кристаллов
§ 3. Теория плотнейшей шаровой упаковки
§ 4. Теория плотной упаковки молекул
Б. Определение размера и симметрии ячейки кристалла и заключения, которые могут быть сделаны из этих данных
§ 1. Определение размеров элементарной ячейки кристалла и трансляционной группы
§ 2. Размеры ячейки и заключения о структуре кристалла
§ 3. Определение пространственной группы
§ 4. Пространственная группа, симметрия расположения атомов и молекул в ячейке и химическая формула
В. Геометрический анализ
§ 1. Учет конечного размера атомов при размещении их в ячейке
§ 2. Геометрический анализ ионных кристаллов на основе теории плотной упаковки
§ 3. Геометрический анализ молекулярных кристаллов
Глава VI. Структурный анализ с оценкой интенсивностей
§ 1 Сравнение с опытом возможных моделей структуры
§ 2. Метод рядов электронной плотности
§ 3. Техника подсчёта двумерных рядов Фурье
§ 4. Симметрия двумерного ряда электронной плотности
§ 5. Точность рядов и возможности их применения
§ 6. Ошибка ряда электронной плотности
§ 7. Ряды межатомных векторов — F2-ряды
§ 8. Анализ проекций F2-рядов
§ 9. Методы уточнения структуры, основывающиеся на идее максимального сближения Fнабл. и Fвыч
§ 10. Определение знаков Fnkl по данным об их величине
§ 11. Автоматизация расчётов в структурном анализе
Глава VII. Исследование поликристаллических веществ
§ 1. Сущность и цели исследования
§ 2. Обычный метод исследования поликристаллических веществ
§ 3. Фазовый анализ
§ 4. Съёмка в фокусирующих камерах
§ 5. Исследование текстуры
§ 6. Определение размера частиц по рентгенограммам
§ 7. Измерение напряжений
§ 8. Определение радиального распределения плотности вещества в кристалле
§ 9. Структурный анализ газов, жидкостей и аморфных тел
§ 10. Исследования строения решёток с элементами беспорядка и сверхструктурой
§ 11. Исследование строения волокнистых веществ
Глава VIII. Примеры рентгеноструктурного анализа кристаллов
§ 1. Исследование структуры по рентгенограмме порошка. Кубический кристалл (Zn(CN)2)
§ 2. Определение структуры метил- и этилхлоридов ртути СН3НgСl и С2Н5НgСl
§ 3. Исследование структуры карбида кремния на основе теории плотной упаковки
§ 4. Исследование структуры карбида бора
§ 5. Структурный анализ органического соединения, проведённый количественно геометрическим методом (2,6-дифенилнафталин)
§ 6. Исследование структуры С2H2HgClBr методом F2-рядов
§ 7. Кристаллическая структура «глобулярных» протеинов
Алфавитный указатель
Опечатки