Публикация ННР Рентгенография металлов и полупроводников

Уманский Яков Семенович Рентгенография металлов и полупроводников. – 1969. – 496

Введение
Глава I. Физика рентгеновских лучей
Глава II. Источники рентгеновских лучей и аппараты γ- дефектоскопии
Глава III. Детекторы рентгеновских лучей
Глава IV. Структурный анализ, основные уравнения дифракции рентгеновских лучей от кристаллов и общая характеристика методов структурного анализа
Глава V. Элементы рентгеноанализа монокристаллов
Глава VI. Методы рентгеноанализа поликристаллических веществ
Глава VII. Рентгеноанализ преимущественных ориентировок (текстур)
Глава VIII. Рентгенографическое определение деформации решетки и размеров кристаллитов. Рентгеноанализ структурных изменений при нагреве деформированных кристаллических тел
Глава IX. Рентгеноанализ сплавов
Глава X. Рентгеноанализ структурных изменений, вызываемых термической обработкой сплавов и воздействием ионизирующего излучения
Глава XI. Применение дифракции электронов и нейтронов для излучения структуры сплавов
Глава XII. Основные принципы рентгеноспектрального анализа
Глава XIII. Радиационная дефектоскопия
Основная литература
Приложения
- Защита от воздействия рентгеновских и гамма-лучей
- Справочные таблицы